2000.12.17より

残差分析 residual analysis

 重回帰分析においては,誤差項の分布にいくつかの仮定を前提としている。これらの仮定が満たされているかどうかについては,予測値と実測値の乖離について検討する残差分析が行われる。残差はモデル中の誤差項とは異なった振舞いをするので,標準化残差が用いられる。 NAP では標準化残差と予測値のプロット,標準化残差の Q-Q プロットの 2 種類を提供する。前者においては標準化残差が一定の傾向を持っている場合(例えば実測値が大きくなるにつれ残差も大きくなる,途中まで増加(減少)しその後減少(増加)するなど),後者では理論直線から離れたプロット点が存在する場合には,重回帰モデルの妥当性が疑わしいと判断される。また,いくつか飛離れたケースがある場合には,測定ミス,データ入力ミスなどの可能性もあるので,注意深く検討すべきである。



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